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Low thermal conductivity and improved thermoelectric performance of nanocrystalline silicon germanium films by sputtering

Registro bibliográfico

  • Título: Low thermal conductivity and improved thermoelectric performance of nanocrystalline silicon germanium films by sputtering
  • Autor: Pérez Taborda, Jaime Andrés; Romero, Juan José; Muñoz Rojo, Miguel; Briones, Fernando; Maíz, Jon; Gonzaleza, Marisol Martin
  • Publicación original: Nanotechnology 27, 2016
  • Descripción física: PDF
  • Notas de reproducción original: Digitalización realizada por la Biblioteca Virtual del Banco de la República (Colombia)
  • Notas:
    • Resumen: Si x Ge 1? x alloys are well-known thermoelectric materials with a high figure of merit at high temperatures. In this work, metal-induced crystallization (MIC) has been used to grow Si 0.8 Ge 0.2 films that present improved thermoelectric performance (zT= 5.6× 10? 4 at room temperature)—according to previously reported values on films—with a relatively large power factor (? centerdot S 2= 16 ?W centerdot m? 1 centerdot K? 2). More importantly, a reduction in the thermal conductivity at room temperature (?= 1.13±0.12 W.
    • Resumen: Silicio germanio; Termoelectricos; Plasma
    • © Derechos reservados del autor
    • Colfuturo
  • Forma/género: texto
  • Idioma: inglés
  • Institución origen: Biblioteca Virtual del Banco de la República
  • Encabezamiento de materia:
Low thermal conductivity and improved thermoelectric performance of nanocrystalline silicon germanium films by sputtering | Biblioteca Virtual Miguel de Cervantes Ampliar imagen

Digitalización realizada por la Biblioteca Virtual del Banco de la República (Colombia)

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